AnaPico为众多工厂产线老化测试提供高效经济的微波解决方案

在电子设备的生产中，老化测试在整个使用寿命期间的可靠性和对声明参数的保证起着重要作用，尤其是在特殊应用（国防和航天工业、电信、医药等）方面。即使经过成功的参数和功能测试，在实际操作条件下使用时也有可能出现设备故障。此类设备被称为潜在不可靠设备，它们的上市是不可接受的，因为它们无法承受制造商声明的使用寿命。因此必须使用特殊测试方法来识别潜在不可靠的设备：电热训练、热训练、能量循环等。

上图显示了设备故障概率对其运行持续时间的依赖性曲线。从图中可以看出，由于产品制造过程中存在缺陷以及设备因磨损而导致设备寿命结束时，故障数量最多发生在操作的初始阶段。制造商很大的兴趣是筛选出所有不能承受声明使用寿命的产品。初期失败的原因往往是生产过程中不受控制的过程。

一个很好的例子是在多个通道上具有高带宽以实现高数据速率的5G设备。增加工作频率的要求导致设备的几何尺寸减小。由于使用了技术设备的限制性操作模式，这反过来又导致生产中出现隐藏的缺陷。此外，最终产品的质量在很大程度上取决于原材料的纯度、电子设备设计的选择规则以及生产过程本身的组织。因此，最终测试阶段对制造商来说是强制性的，这样可以消除潜在的不可靠设备。

在老化测试的情况下 ，不仅对设备施加电效应，而且要设置高低温箱的环境温度。测试的持续时间可以通过提高高低温箱的温度来缩短。但是在很宽的温度范围内（例如，从-60到+150°C），老化过程也可能需要几个小时到几百个小时。考虑到如此长的测试时间，有必要同时老化尽可能多的设备。

因此增加测试通道的问题，特别是对于微波设备，是当今提升测试效率最重要的问题。在大多数情况下，设备由直流电持续供电，而微波信号从单个信号源通过放大器馈送到功率分配器，功率分配器将信号分配到所需数量的通道。显然，这种解决方案的缺点是需要使用放大器并且无法单独控制每个通道的信号参数。直接针对这些问题，AnaPico推出了多通道模拟模拟信号源（ APMS-ULN系列)、多通道矢量信号源（ APVSG-X系列）和更加经济的多通道频率综合器（ APSYN140-X系列和 APUASYN20-X系列），它们分别采用1U和2U 19英寸机架尺寸。

APMS-ULN系列可在1U机箱中输出4路相参的最大范围300kHz至40GHz的高性能模拟信号，每个通道并可单独提供脉冲调制、扫描、AM、FM和PM等调制信号

APVSG-X系列可在2U机箱中输出4路相参的最大范围10MHz至40GHz的高性能矢量信号，每个通道并可单独提供模拟和矢量调制信号

APSYN140-X或AP UASYN20-X系列可在1U机箱中输出4路相参的最大范围8kHz至40GHz（或20GHz）的高质量连续波信号，每个通道并可单独提供脉冲调制和扫描信号